Hellma  用于吸光度和熒光測量的比色皿

用于吸光度和熒光測量的比色皿 Hellma Analytics 生產各種用于光譜學和細胞計數的比色皿，光路長度跨度為 0.01 mm 至 100 mm 及以上。

由于其在吸光度和熒光測量時的穩定性、最高精確度和可靠性，Hellma 比色皿在實驗室的各個領域都表現出色。

更重要的是，功能優化的邊角斜角設計可以防止因分裂而造成的損壞風險，并協助用戶進行日常工作。根據要求，Hellma能夠生產針對特定應用領域定制的定制模型。

比色皿透射率的測量 如果需要，可以將比色皿進行光譜校準，分成具有相等透射率值的組（測量不確定度±1%）。這些比色皿有一個三位數的校準代碼，其中包含有關材料的編碼數據以及比色皿材料典型波長下的透射率。

比色皿的旋光檢查 可根據要求對內部寬度大于 5 mm 的比色皿進行旋光檢查。它們標有“P"，并附有測試證書，確認偏振面的旋轉不超過 0.01 度。

優勢 

● 窗口平行度高，最大公差為 ± 0.01 毫米 

● 出色的光程長度精度低至 0.003 毫米 (3 µm)，可實現高尺寸精度和可重復的測量結果 

● 光學窗口表面平整度為 0.001 毫米 (3 µm) 1 µm) 

● 由于各個組件的熱粘合（有效地整體式），因此具有非常高的溫度穩定性和耐化學性 

● 保證從 200 nm 到 3500 nm 的透射率至少為 82%，具體取決于材料

比色皿并不全部相同，即使它們有時看起來相同。差異在于細節，并且對于測量結果至關重要。

以Hellma的比色皿窗口為例，它擁有很好的品質和超過 0.001 毫米（1 微米）的平面度公差。兩個窗口表面相對于彼此的平行度同樣重要。

Hellma的高精度生產保證比色皿窗口波的正面變形小于 4 lambda，如果 lambda = 546 nm，則約為 0.001 毫米（1 微米）。高水平的平整度表明 Hellma Analytics 的比色皿正在設定標準。總體而言，這是進行可靠、可重復和精確測量的理想基礎。

Hellma  用于吸光度和熒光測量的比色皿